Tecnología Analítica

Difracción y Fluorescencia de Rayos X

PANalytical provee aplicaciones sobre materiales y procesos a través de la combinación de su software e instrumentación, basado en Difracción de Rayos X (XRD), Fluorescencia de Rayos X (XRF) y Espectroscopia de Infrarrojo (NIR). Certificada con la norma ISO 9001 e ISO 14001 con sede en Almelo (Holanda).

Tescan

Difracción de Rayos X

Los Difractómetros de rayos X de PANalytical están diseñados para la obtención de los datos de difracción a máxima calidad, combinando la facilidad de uso y flexibilidad para cambiar rápidamente a diferentes aplicaciones.

Se utilizan en muchos entornos, desde las universidades e institutos de investigación a los laboratorios de control de procesos industriales. Sea cual sea su necesidad en difracción de rayos X (DRX), PANalytical ofrece el instrumento adecuado, respaldado por ventas en todo el mundo y un equipo de servicios.

Difracción de Rayos X

Fluorescencia de Rayos X

PANalytical dispone de una amplia gama de espectrómetros de FRX y productos relacionados para análisis elemental y de grosor de películas delgadas, apropiados para diversos requisitos de análisis y procesamiento de muestras.

Los espectrómetros abarcan desde sistemas de FRX de sobremesa de baja potencia por dispersión de energías hasta sistemas de FRX de alta potencia por dispersión de longitudes de onda, y productos especializados para metrología de semiconductores.

Fluorescencia de Rayos X
X'pert³ Powder

X'pert³ Powder

Dedicado al análisis de polvos mediante difracción. Diferentes fases cristalográficas pueden ser identificadas y cuantificadas. Con el Software Highscore (Plus) permite analizar el tamaño de los cristales y la tensión. Análisis compatibles con [...]

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X'Pert³ MRD (XL)

X'Pert³ MRD (XL)

Análisis desde nanomateriales a muestras a granel. Maneja una amplia gama de aplicaciones, y son especialmente adecuados para análisis de películas delgadas con oscilación en la curva de análisis y mapeo del espacio recíproco, reflectometría y [...]

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CubiX³

CubiX³

CubiX³ se usa en todos los sectores en los que es importante el control de los materiales en polvo entrantes y el control de la producción y la calidad. La gama CubiX³ incluye versiones dedicadas, ajustadas a las necesidades del trabajo en minerí [...]

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Empyrean

Empyrean

Tiene la capacidad única para medir todo tipo de muestras, desde polvos a películas delgadas, nanomateriales u objetos sólidos, en un solo instrumento.
El goniómetro de mayor rendimiento.
La gama más amplia de plataformas de muest [...]

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Aeris

Aeris

Sorprendentemente sencillo y nuevo difractómetro de Rayos-X de mesa. Con su interfaz de usuario intuitiva, Aeris realiza las mediciones de difracción accesibles para todos y tan simple como hacer una taza de café. La pantalla táctil interna muest [...]

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Axios Fast

Axios Fast

Permite medir simultáneamente hasta 28 elementos, obteniendo análisis rutinarios extremadamente rápidos para un control de los procesos en tiempo real. De hecho, se pueden lograr un procesamiento de más de 1000 muestras al día. Esta capacidad hace que sea ideal para aplicaci [...]

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Epsilon 5

Epsilon 5

Líder en el análisis de metales pesados. Epsilon 5 es un espectrómetro de fluorescencia de rayos X (FRX) completamente integrado que combina funciones avanzadas de excitación elemental con un sofisticado software para análisis y control del equipo. [...]

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2830 ZT

2830 ZT

El sistema 2830 ZT es un analizador de obleas de fluorescencia de rayos X por dispersión de longitudes de onda (WDXRF) que ofrece las funciones más avanzadas para medir la composición y el espesor de películas delgadas. [...]

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Zetium

Zetium

capaz de realizar análisis elemental de una amplia gama de materiales, incluyendo sólidos, líquidos y polvos sueltos.
El espectrómetro Zetium lidera el mercado en diseño de alta calidad y características innovadoras para sub ppm hasta análisis de porcentaje Be a A [...]

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Epsilon 1

Epsilon 1

El Epsilon 1 es un analizador de energía dispersiva de FRX totalmente integrado que consta de un espectrómetro, una computadora integrada, pantalla táctil y software de análisis.
Desarrollado por los últimos avances en la excitación y la tecnología de detección. [...]

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Epsilon 3<sup>X</sup>

Epsilon 3X

Epsilon 3x es un espectrómetro de fluorescencia de rayos X por dispersión de energías (EDXRF) de sobremesa para análisis elementales en el control de procesos industriales y en investigación y desarrollo.
Es una herramienta analítica de gran flexibilidad, [...]

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Epsilon 3<sup>XLE</sup>

Epsilon 3XLE

Epsilon 3XLE es un espectrómetro de fluorescencia de rayos X por dispersión de energías para el análisis elemental del intervalo de C a Am, y con un intervalo de concentraciones de ppm al 100%.
Cumple con los requisitos de normas internacionales ASTM, ISO y [...]

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