Tecnología Analítica

Microscopía Electrónica de Barrido

TESCAN es uno de los proveedores mundiales más importantes de instrumentos científicos, construyendo su reputación y marca en el campo de diseño y fabricación de Microscopios Electrónicos de barrido y soluciones de sistemas para diferentes aplicaciones.

Tescan

Área generales de aplicación

TESCAN se centra en la investigación, desarrollo y fabricación de instrumentos científicos y equipos de laboratorio tales como:

  • Microscopios electrónicos de barrido
  • Accesorios suplementarios para SEM
  • Accesorios de luz de microscopía óptica y procesamiento de imágenes
  • Cámaras de vacío especiales y sistemas personalizados
  • Sistemas de detección
  • Desarrollo científico de Hardware y software

Áreas de aplicación que abarca Tescan

Ciencia de los materiales:

  • Aceros y aleaciones metálicas
  • Cerámica y revestimientos duros
  • Vidrio
  • Polímeros y compuestos
  • Materiales para Construcción e Ingeniería Civil
  • Madera, Textil y Papel

Ciencia de la vida:

  • Ingeniería Biomédica
  • Morfología de células y tejidos
  • Microbiología
  • Productos Farmacéuticos
  • Biología vegetal y animal
  • Análisis subcelular
  • Ciencias Ambientales y de los Alimentos

Semiconductores:

  • Análisis de Falla de Circuitos Integrados
  • Circuito Editar
  • Ball Grid Array
  • A través de Silicon Vias
  • Unión de cables
  • Pantallas
  • Sistemas Micro-Electro-Mecánicos
  • Baterías

Ciencias de la tierra:

  • Petrología y Mineralogía
  • Paleontología
  • Procesamiento del mineral
  • Gas de petróleo
  • Reciclaje
XEIA3 Modelo 2016

XEIA3 Modelo 2016

Extraordinaria ultra-alta resolución de imagen y poder de micromecanizado extrema en un solo instrumento. Aplicación en Materiales, investigación, o Ramas de la ingeniería a la industria de semiconductores, TESCAN garantiza sistemas de alto rendi [...]

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GAIA 3 Modelo 2016

GAIA 3 Modelo 2016

Es la plataforma ideal para la realización de las aplicaciones de nanoingeniería más difíciles, que requieren la máxima precisión y capacidad para microanálisis. [...]

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FERA3

FERA3

La primera fuente de plasma Xe del mundo totalmente integrada FIB con SEM permite corrientes extremadamente altas de iones hasta 2 µA aumentando así la tasa de pulverización catódica más de 50 veces en comparación con fuente de Ga convencional [...]

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LYRA3

LYRA3

El LYRA 3 FEG es una combinación favorable de SEM y FIB para los usuarios más exigentes. Se basa en una columna de Schottky FEG-SEM de alta resolución y una columna FIB de alto rendimiento.
Los usuarios pueden beneficiarse de la e [...]

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tecnologia_analitica/microscopia/des_sem

La microscopía electrónica de barrido es una técnica no destructiva bien conocida que utiliza una sonda de haz de electrones para analizar las muestras de superficie hasta la nanoescala. Los microscopios electrónicos de barrido producen imágenes de alta magnificación con alta resolución, lo que las convierte en herramientas adecuadas para una amplia gama de aplicaciones en numerosos campos de la ciencia y la industria.

MAIA3

MAIA3

Un sistema de detección versátil y alta resolución espacial permite observar incluso los detalles más finos de la superficie.
Esta es una característica esencial para la caracterización completa de nanomateriales, para la observación de muestras sensibles al haz co [...]

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VEGA3

VEGA3

La serie VEGA se diseñó con respecto a una amplia gama de aplicaciones y necesidades de SEM en la investigación y la industria de hoy.
Después de 10 años de desarrollo continuo VEGA ha madurado hasta su 3ª generación que proporciona a sus usuarios las ventajas de la [...]

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MIRA3

MIRA3

La nueva generación MIRA de microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo, proporciona a los usuarios las ventajas de la tecnología más avanzada, tales como:
• La nueva electrónica de alto rendimiento mejorada para la adquisición de imágenes más rápi [...]

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TIMA

TIMA

El analizador integrado de Minerales de Tescan (TIMA), está basado en una solución mineralogía automatizada SEM para las industrias de minería y procesamiento de minerales.
TIMA mide la abundancia de minerales, liberación tamaño por tamaño, asociación mineral y el [...]

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Q-PHASE

Q-PHASE

El Q-FASE es un instrumento único para Imágenes de fase cuantitativa (QPI), basado en tecnología patentada de coherencia controlada de microscopía holográfica.
El Q-FASE está diseñado intencionalmente para observar células vivas in vitro. [...]

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microscopia/accesorios

La creación de condiciones favorables para el complejo análisis de muestras, junto con la posibilidad de imágenes de alta calidad de la superficie de la muestra para los estudios morfológicos, es una alta prioridad en el diseño de los microscopios TESCAN desde el comienzo de su desarrollo. En este sentido TESCAN posee un conjunto de accesorios de alta utilidad según las diferentes aplicaciones de sus equipos.

Detector STEM

Detector STEM

La microscopía electrónica de transmisión se utiliza ampliamente en el campo de las ciencias de la vida o Ingeniería de Materiales. Por lo tanto Tescan ha desarrollado un adaptador que proporciona un método complementario para la adquisición de la imagen de los electrones de transmisión - detector de microscopía electrónica de transmisión de barrido (STEM).

Detector SE en Haz

Detector SE en Haz

El detector SE en haz de alta eficiencia se coloca en el lente del objetivo.

Nuevo Detector de Color Rainbow CL

Nuevo Detector de Color Rainbow CL

El nuevo detector de color Rainbow CL con un rendimiento excepcional y sensibilidad 4x Es más alta en comparación con los detectores de CL comunes.

LVSTD

LVSTD

El Detector de bajo vacío de electrones Secundario de TESCAN, es una solución única desarrollada y patentada por TESCAN. Es un diseño Everhart-Thornley modificado y equipado con un contador de centelleo YAG que proporciona una gran cantidad de ventajas.

Panel de Control

Panel de Control

TESCAN ofrece un panel de control SEM como otra opción para los controladores estándar como trackball multiuso o interfaz de control de pantalla táctil EasySEM ™.

Nanomanipulators

Nanomanipulators

Los controladores Nanomalipulators son un accesorio opcional que expande el TESCAN FIB y SEMs a un procesamiento material y Banco de trabajo analítico.

Sistema Automatizado de Carga para TIMA AutoLoader

Sistema Automatizado de Carga para TIMA AutoLoader

Con el nuevo desarrollo automatizado sistema de carga (AutoLoader), el TIMA se ha convertido en el primer analizador de minerales automatizado que permite sólida, continua y desatendida carga de la muestra. Con el sistema AutoLoader (robótica), que permite la acomodación de hasta 100 bloques de muestra en resina de 25 mm o 30 mm de diámetro a la vez.

Detector HADF R-STEM

Detector HADF R-STEM

El detector HADF R-STEM (High Angle Dark Field Retractable STEM Detector), es una nueva versión retráctil del detector de vástago fijo.

Etapa de Oscilación

Una alta calidad de la superficie de la sección transversal sin daño es crucial para ser capaz de detectar pequeñas estructuras, y también es importante detener el molido FIB en el momento adecuado, mediante la utilización de la observación SEM durante el proceso de pulido de la sección transversal.